顆粒圖像檢測(cè)儀
簡(jiǎn)要描述:顆粒圖像檢測(cè)儀采用落射式柯勒照明,利用反射平行光原理觀察不透明反射物體表面結(jié)構(gòu)及輪廓,輔以視頻采集系統(tǒng)、計(jì)算機(jī)軟件對(duì)生物細(xì)胞組織及微粒進(jìn)行幾何測(cè)量分析。
產(chǎn)品型號(hào): BM-KLX
所屬分類:顯微鏡
更新時(shí)間:2024-12-05
廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
詳情介紹
顆粒圖像檢測(cè)儀采用落射式柯勒照明,利用反射平行光原理觀察不透明反射物體表面結(jié)構(gòu)及輪廓,輔以視頻采集系統(tǒng)、計(jì)算機(jī)軟件對(duì)生物細(xì)胞組織及微粒進(jìn)行幾何測(cè)量分析。 |
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